表面形貌測量?jì)x應用在手機外殼的檢測

　　表面形貌測量?jì)x是一種非接觸式光學(xué)3D輪廓儀，具有測量薄膜和厚膜的功能。除提供尺寸和粗糙度測量功能，還可以提供兩種類(lèi)型的膜厚測量，測量較薄的涂層被證實(shí)為難度更高。

　　采用這種新型方法，可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。無(wú)論測量的是何種元件，無(wú)論對分析速度的要求有多高，非接觸式表面形貌測量?jì)x都能為您提供精密的3D表面測量結果。

　　極大地擴展了分析能力，同時(shí)又不至于讓分析程序變得更復雜?？蓽y量各種各樣的元件和表面，不需要進(jìn)行復雜的測量模式切換，也不會(huì )給中間透鏡的校準增加額外的負擔。通過(guò)標準化的方法、程序和報告，可輕松地整合到質(zhì)量管理系統中。

　　表面形貌測量?jì)x對于很多需要進(jìn)行高精度3D輪廓分析的應用非常有用，可測量多種類(lèi)型的表面?？蓽y量的材料類(lèi)型包括：玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。

　　三維形貌量測系統采用光學(xué)全場(chǎng)非接觸式測量技術(shù)，通過(guò)測頭直接測量獲取工件的三維形貌信息，對三維輪廓信息進(jìn)行直接測量得到工件的尺寸信息。

　　表面形貌測量?jì)x對手機外殼檢測的原理：

　　采用光學(xué)全場(chǎng)非接觸式測量技術(shù)，直接獲取手機外殼的三維形貌。通過(guò)三維形貌的點(diǎn)云數據進(jìn)行逆向工程生成CAD模型，與手機外殼的CAD原型比對，獲得加工誤差，為產(chǎn)品提供質(zhì)量考核依據。

　　表面形貌測量?jì)x在手機外殼中的應用：

　　1.手機外殼全表面快速測量；

　　2.手機3D玻璃及陶瓷外殼等構件輪廓及厚度檢測。

　　這一類(lèi)檢測是采用光譜共焦技術(shù)，非接觸式測量手機3D玻璃及陶瓷外殼等構件的整板翹曲度，任意截面翹曲度，整板厚度以及任意截面厚度等。