深入解析Zeta電位分析儀的測量原理

　　Zeta電位分析儀是一種基于電泳和光散射原理的高精度測量?jì)x器，主要用于測量納米顆粒的Zeta電位。Zeta電位是連續相與附著(zhù)在分散粒子上的流體穩定層之間的電勢差，是表征粒子表面電荷狀態(tài)的一個(gè)重要參數。

　　該分析儀的測量原理主要依賴(lài)于電泳遷移率的測定。當電場(chǎng)施加于電解質(zhì)溶液中的懸浮帶電粒子時(shí)，這些粒子會(huì )受到電場(chǎng)力的作用而向相反電荷的電極移動(dòng)。同時(shí)，作用于粒子的粘性力會(huì )傾向于對抗這種運動(dòng)。當這兩種力達到平衡時(shí)，粒子將以恒定的速度運動(dòng)，這個(gè)速度被稱(chēng)為電泳遷移率。

　　通過(guò)測量電泳遷移率，并結合介電常數、溶液粘度等物理參數，可以利用Henry方程推導出粒子的Zeta電位。這一過(guò)程的關(guān)鍵在于準確測量電泳遷移率，這通常通過(guò)電泳光散射法來(lái)實(shí)現。

　　在電泳光散射法中，激光被用來(lái)照射納米顆粒，顆粒在電場(chǎng)作用下的電泳運動(dòng)會(huì )導致光的散射角度和強度發(fā)生變化。通過(guò)測量這些變化，可以計算出顆粒的電泳遷移率，進(jìn)而得到Zeta電位。

　　此外，Zeta電位分析儀還可以結合動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)來(lái)測量納米顆粒的粒度分布。這一功能使得分析儀能夠同時(shí)提供關(guān)于顆粒大小和表面電荷性質(zhì)的信息，為科研和工業(yè)應用提供了更為全面的數據支持。

　　綜上所述，Zeta電位分析儀的測量原理基于電泳遷移率的測定，通過(guò)電泳光散射法和動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的結合，實(shí)現了對納米顆粒Zeta電位和粒度分布的高精度測量。